高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或 高20MHz的頻率。

優(yōu)勢

• 強阻尼寬帶設(shè)計提供了很好的時間分辨率。

• 短波長可獲得很強的缺陷分辨率能力。

• 直徑極小的聲束也可以聚焦。

• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。

應(yīng)用

• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。

• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。

• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度。

• 可對陶瓷及高級工程材料進(jìn)行檢測。

• 可對材料進(jìn)行分析。

 *厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。

高頻接觸式

• 使用直接接觸檢測法時，利用熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評價、材料分析或厚度測量。

• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。

• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）

高頻標(biāo)準(zhǔn)水浸外殼

• 熔融石英延遲塊。

• 聚焦單元使用一個高質(zhì)量的光學(xué)研磨透鏡。

• F202適配器可固定被動UHF連接器和主動Microdot連接器。

• 將高頻率和小外殼設(shè)計的特點結(jié)合在一起。

高頻SU/RM水浸外殼 

• 帶有高質(zhì)量的光學(xué)研磨透鏡的熔融石英延遲塊可使聲束 的校直及聚焦達(dá)到很高的精度。

• 不銹鋼外殼帶有一個被動平直UHF (SU)連接器和一個主動 直角Microdot (RM) 連接器。

• 大外殼可使用較大的延遲塊，并減少延遲塊的回響和噪音。